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◇ 粒徑儀的工作原理與測量技術(shù)解析
粒徑儀的工作原理與測量技術(shù)解析
更新日期:2025-03-04 信息來源: 瀏覽次數(shù):18
粒徑儀
是一種用于測量顆粒大小的儀器,在材料科學(xué)、制藥、化工、環(huán)保等眾多領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。了解其工作原理和測量技術(shù)對于準(zhǔn)確獲取顆粒粒徑信息、保證產(chǎn)品質(zhì)量和進(jìn)行科學(xué)研究具有重要意義。
一、
粒徑儀
的工作原理
1、散射法
散射法是基于光與顆粒相互作用時產(chǎn)生的散射現(xiàn)象來測量粒徑的。當(dāng)一束光照射到顆粒上時,顆粒會使光發(fā)生散射,散射光的強(qiáng)度、角度和偏振等特性與顆粒的大小、形狀和折射率等因素有關(guān)。
根據(jù)米氏散射理論,對于球形顆粒,在特定波長下,散射光的強(qiáng)度分布呈現(xiàn)出一定的規(guī)律。通過測量散射光在不同角度的強(qiáng)度,利用數(shù)學(xué)模型可以反推出顆粒的粒徑大小。
2、篩分法
篩分法是一種傳統(tǒng)的粒徑測量方法,其原理是利用不同孔徑的篩網(wǎng)對顆粒進(jìn)行篩選。將待測顆粒樣品放在一系列具有不同孔徑的篩網(wǎng)上,通過振動等方式使顆粒通過篩網(wǎng),留在不同篩網(wǎng)上的顆粒對應(yīng)著不同的粒徑范圍。
篩分法操作簡單,適用于顆粒形狀規(guī)則、粒度分布較寬的情況。但該方法對于細(xì)小顆粒的測量精度較低,且操作過程較為繁瑣,需要耗費(fèi)較多的時間和人力。
3、沉降法
沉降法是根據(jù)顆粒在液體或氣體中的沉降速度來測量粒徑的。根據(jù)斯托克斯定律,在一定條件下,顆粒在流體中的沉降速度與顆粒的大小、密度以及流體的黏度等因素有關(guān)。
通過測量顆粒在流體中的沉降速度,結(jié)合已知的其他參數(shù),就可以計(jì)算出顆粒的粒徑。沉降法適用于測量較大顆粒的粒徑,對于微小顆粒的測量則受到沉降時間過長等因素的限制。
二、
粒徑儀
的測量技術(shù)
1、激光衍射技術(shù)
激光衍射技術(shù)是目前應(yīng)用較為廣泛的粒徑測量技術(shù)之一。它利用激光作為光源,通過測量顆粒對激光的衍射光強(qiáng)分布來計(jì)算顆粒的粒徑。激光衍射技術(shù)具有測量范圍寬、精度高、速度快等優(yōu)點(diǎn),能夠準(zhǔn)確測量從納米級到毫米級的顆粒粒徑。
2、動態(tài)光散射技術(shù)
動態(tài)光散射技術(shù)主要用于測量微小顆粒的粒徑。該技術(shù)通過測量顆粒在流體中布朗運(yùn)動引起的散射光強(qiáng)度的波動來獲取顆粒的粒徑信息。動態(tài)光散射技術(shù)具有非侵入性、測量速度快等優(yōu)點(diǎn),適用于研究納米顆粒的粒徑分布和動力學(xué)性質(zhì)。
3、圖像分析法
圖像分析法是通過拍攝顆粒的顯微鏡圖像,然后利用圖像處理軟件對圖像進(jìn)行分析來測量顆粒的粒徑。該方法可以直接觀察顆粒的形狀和大小,對于不規(guī)則形狀顆粒的測量具有一定的優(yōu)勢。但圖像分析法需要對樣品進(jìn)行制樣和顯微鏡觀察,操作過程相對復(fù)雜,且測量結(jié)果可能受到圖像質(zhì)量和分析軟件的影響。
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如何正確使用Zeta電位分析儀進(jìn)行表面電荷測量?
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